Khóa học DESIGN FOR TEST (DFT)

Lớp học Online qua Zoom - Học phí: Liên hệ

Thời lượng: 18 giờ

HỌC ONLINE QUA VIDEO CHẤT NHƯ HỌC OFFLINE
Các video của khóa học này được thu lại khi GV dạy lớp học online qua Zoom.
Trong các buổi học, có những thắc mắc, những câu hỏi của học viên được GV giải đáp ngay khi học.
Cùng với những chia sẻ của GV về công việc, kinh nghiệm thực tế, hướng phát triển ngành nghề trong tương lai.

QUYỀN LỢI CỦA HỌC VIÊN
* Được hỗ trợ giải đáp thắc mắc qua inbox facebook, Zalo, Teamview.
* Được cập nhật các phần kiến thức mới.
* Được học mọi lúc, mọi nơi.
* Được sở hữu khóa học trọn đời.

DANH MỤC :

Mô tả khóa học

Hình ảnh lớp học

Cảm nhận học viên

KHOÁ HỌC DESIGN FOR TEST (DFT)

Khóa học cung cấp kiến thức và kỹ năng về các kỹ thuật kiểm thử trong thiết kế vi mạch số hiện đại, giúp nâng cao khả năng kiểm thử và độ tin cậy của chip trước khi sản xuất hàng loạt.
• Tìm hiểu vai trò của DFT trong quy trình thiết kế chip Fabless và các yêu cầu kiểm thử trong công nghiệp bán dẫn.
• Nắm vững các lỗi phổ biến trong mạch số như Stuck-at Fault, Transition Fault và các phương pháp phát hiện lỗi.
• Học các chuẩn kiểm thử công nghiệp IEEE 1149.1 (JTAG) và IEEE 1687 (IJTAG), từ cấu trúc đến nguyên lý hoạt động và ứng dụng thực tế.

• Tìm hiểu kỹ thuật MBIST (Memory Built-In Self-Test), kiến trúc bộ nhớ, các thuật toán kiểm thử và quy trình chèn MBIST vào thiết kế.
• Nắm vững kỹ thuật Scan, Scan Chain, Scan Insertion và các thành phần quan trọng như OCC, Lockup Latch, Wrapper, Pipeline và TPI.
• Quy trình MBIST Insertion và Scan Insertion trên các công cụ DFT phổ biến trong công nghiệp.

Đối tượng tham gia khóa học

Sinh viên các ngành Thiết kế vi mạch, Kỹ thuật máy tính, Điện tử – Viễn thông, và các ngành kỹ thuật liên quan.
Những người học về quy trình kiểm thử chip và các chuẩn DFT đang được sử dụng rộng rãi trong công nghiệp IC hiện nay.

Thông tin khóa học

Chương 1: Tổng quan về DFT

- Vai trò kiểm thử
- Ưu điểm/ Nhược điểm của mạch kiểm thử
- Vị trí của DFT nằm ở đâu trong Flow của Fabless
- Giới thiệu các chuẩn cơ bản của DFT: IEEE1149.1, 1687 và 1500
- Giới thiệu về các kĩ thuật cơ bản của DFT: MBIST, SCAN

Chương 2: IEEE 1149.1 (JTAG) – IEEE 1687 (IJTAG

- Công dụng của IEEE 1149.1
- Cấu trúc của chuẩn IEEE 1149.1
- Cách thức hoạt động của chuẩn IEEE 1149.1
- Công dụng của IEEE 1687
- Cấu trúc của chuẩn IEEE 1687
- Cách thức hoạt động của chuẩn IEEE 1149.1
- Liên kết hai chuẩn IEEE 1149.1 và IEEE 1687

Chương 3: MBIST (2 buổi)

- Cấu trúc basic của memory
- Các loại thuật toán và fault của memory
- Flow MBIST insertion detail
- Cấu trúc input mem description for tool
- Kiến trúc của mach MBIST (Tessent)
- Cách thức hoạt động MBIST (Tessent)
- Tesbench pattern for MBIST test

Chương 4: SCAN)

- Giới thiệu Flow SCAN detail
- Cách thức hoạt động của SCAN trong design
- Các loại fault cơ bản trong DFT: Stuck-at fault, transition fault
- Các thành phần cơ bản, công dụng và cách thức hoạt trong mạch SCAN: CODEC, OCC, Lockup Latch, Pipeline, TPI, Wrapper